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型號(hào):PHI Genesis 900
型號(hào):PHI 710
型號(hào):PHI nano TOF3+
型號(hào):PHI Genesis 500
型號(hào):C60 40
型號(hào):C60 20
型號(hào):C60 20S
型號(hào):GCIB 10S
以用戶(hù)為中心 以人才為根本 努力實(shí)現(xiàn)你我共贏(yíng)
束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司自成立以來(lái),憑借與德國(guó)布魯克(BRUKER)、衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國(guó)Freiberg等實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。我們擁有一支積極樂(lè)觀(guān),正直誠(chéng)信的年輕團(tuán)隊(duì),我們熱忱的信仰科學(xué),相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶(hù)帶來(lái)高品質(zhì)的生活,為社會(huì)的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。束蘊(yùn)儀器為各類(lèi)客戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)儀器及過(guò)程控制設(shè)備,專(zhuān)業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù),在中國(guó)大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶(hù),如高校、科研院所、航空航天,政府組織、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)、及工業(yè)企業(yè)。...
進(jìn)一步提高公司的技術(shù)、質(zhì)量和服務(wù)
在現(xiàn)代科學(xué)研究和工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域,高精度成像技術(shù)的重要性日益凸顯。X射線(xiàn)三維顯微鏡作為一種先進(jìn)的無(wú)損檢測(cè)工具,以其獨(dú)特的穿透能力和高分辨率成像特性,成為了材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)以及工業(yè)質(zhì)量控制等多個(gè)領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)。X射線(xiàn)三維顯微鏡基于X射線(xiàn)與物質(zhì)相互作用時(shí)的吸收差異。當(dāng)X射線(xiàn)穿過(guò)物體時(shí),不同密度和組成的材料會(huì)對(duì)X射線(xiàn)產(chǎn)生不同程度的衰減,這種衰減信息被探測(cè)器捕捉并轉(zhuǎn)化為電信號(hào),最終通過(guò)計(jì)算機(jī)處理生成三維圖像。與傳統(tǒng)的二維X射線(xiàn)成像相比,三維顯微鏡能夠提供更為豐富的空間結(jié)構(gòu)信息,使得研究...
隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展,高分辨顯微CT(ComputedTomography)檢測(cè)技術(shù)作為一種非破壞性的三維成像技術(shù),在生命科學(xué)領(lǐng)域展現(xiàn)出了巨大的應(yīng)用潛力和價(jià)值。其不僅能夠?qū)崿F(xiàn)生物樣本的精確成像,還能提供豐富的生物學(xué)信息,為生命科學(xué)研究提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。本文旨在探討高分辨顯微CT檢測(cè)技術(shù)在生命科學(xué)領(lǐng)域的前沿應(yīng)用,并分析其在推動(dòng)科學(xué)進(jìn)步方面的作用。一、概述高分辨顯微CT檢測(cè)技術(shù)是一種基于X射線(xiàn)的高精度三維成像技術(shù),它結(jié)合了CT掃描與顯微鏡技術(shù)的優(yōu)點(diǎn),能夠在不破壞樣本的前提...
微電子器件的功能在很大程度上取決于其晶體結(jié)構(gòu)。高分辨率X射線(xiàn)衍射(HRXRD)是一種無(wú)損分析技術(shù),能夠以亞納米級(jí)的精度研究晶體結(jié)構(gòu)-即使是在非環(huán)境或工作狀態(tài)下。使用實(shí)驗(yàn)室X射線(xiàn)衍射儀通過(guò)HRXRD研究這些微米級(jí)尺寸的器件極其具有挑戰(zhàn)性,因?yàn)樾枰皇∮谒P(guān)注結(jié)構(gòu)的X射線(xiàn)束。鋯鈦酸鉛(PZT)電容器在提高各種電子設(shè)備和系統(tǒng)的功能及性能方面起著至關(guān)重要的作用。由于其能夠在電能和機(jī)械能之間轉(zhuǎn)換,它們被用于需要高精度、控制和高效能量轉(zhuǎn)換的應(yīng)用中。典型的例子包括微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)器...
1應(yīng)用背景在微電子半導(dǎo)體行業(yè)日新月異的現(xiàn)狀,材料質(zhì)量的提升與器件性能的優(yōu)化成為推動(dòng)技術(shù)進(jìn)步的關(guān)鍵因素。碳化硅(SiC)作為一種新興的高性能半導(dǎo)體材料,以其優(yōu)異的導(dǎo)熱性、高擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度及耐高溫特性,在電力電子、新能源汽車(chē)、航天航空等領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大的應(yīng)用潛力。然而,碳化硅器件的性能優(yōu)化并非易事,其涉及到材料質(zhì)量、加工工藝、器件設(shè)計(jì)等多個(gè)層面的精細(xì)控制。在這個(gè)過(guò)程中,少數(shù)載流子壽命(少子壽命)作為評(píng)價(jià)半導(dǎo)體材料質(zhì)量的重要參數(shù)之一,其精確測(cè)量與深度分析顯得尤為重要。2儀器介紹德國(guó)弗萊...
D8X射線(xiàn)衍射儀是一種基于X射線(xiàn)與物質(zhì)相互作用原理的精密儀器,它能夠揭示物質(zhì)內(nèi)部的晶體結(jié)構(gòu)信息。自從1895年倫琴發(fā)現(xiàn)X射線(xiàn)以來(lái),這種神秘的光線(xiàn)便開(kāi)啟了探索物質(zhì)世界的新紀(jì)元。X射線(xiàn)由于其波長(zhǎng)與原子間距相當(dāng),當(dāng)其通過(guò)晶體時(shí)會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象,這一特性為研究物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)提供了可能。D8X射線(xiàn)衍射儀的核心工作原理基于布拉格定律。當(dāng)X射線(xiàn)以特定角度射向晶體時(shí),如果射線(xiàn)的波長(zhǎng)與晶體中原子平面的距離滿(mǎn)足特定的數(shù)學(xué)關(guān)系,就會(huì)發(fā)生衍射增強(qiáng)。每一種晶體物質(zhì)都有自己獨(dú)特的衍射圖案,這些圖案就像是物質(zhì)...
X射線(xiàn)顯微斷層成像系統(tǒng)是一種先進(jìn)的成像技術(shù),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域。這種系統(tǒng)通過(guò)結(jié)合X射線(xiàn)技術(shù)和計(jì)算機(jī)重建算法,能夠提供高分辨率的三維圖像,幫助研究人員和工程師深入了解樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。以下是對(duì)X射線(xiàn)顯微斷層成像系統(tǒng)組成部件的描述:1.X射線(xiàn)源X射線(xiàn)源是整個(gè)成像系統(tǒng)的核心部分,負(fù)責(zé)產(chǎn)生高能X射線(xiàn)束,這些射線(xiàn)穿透樣品后被探測(cè)器捕獲。常見(jiàn)的X射線(xiàn)源包括封閉管式和開(kāi)放式兩種類(lèi)型。封閉管式X射線(xiàn)源通常用于實(shí)驗(yàn)室環(huán)境,而開(kāi)放式X射線(xiàn)源則適用于需要更高能量或更大工作空...
太忙,許久沒(méi)有寫(xiě)什么東西。也很少能找到時(shí)間靜下心來(lái)去思考一些事情。大環(huán)境太卷,都不知道在卷什么。即便忙到飛起,還是有很多時(shí)間很可惜的浪費(fèi)掉了。解析結(jié)構(gòu)也是如此。有時(shí)忙活半天才發(fā)現(xiàn),起初的結(jié)論壓根就是個(gè)“苦笑”的錯(cuò)誤。從電報(bào)烏龍看科學(xué)解析的局限培訓(xùn)時(shí),突然想起初中時(shí)一件啼笑皆非的事情。在那個(gè)還幾乎沒(méi)有電話(huà)的年代,依稀記得初二那年,語(yǔ)文老師突然接到東北老家發(fā)來(lái)的電報(bào),意思是父親病故速回。語(yǔ)文老師哭紅了眼睛跟我們說(shuō)她回去幾天。然而一個(gè)禮拜之后語(yǔ)文課上,她十分氣憤地告訴我們這是一個(gè)大...
前言寫(xiě)這個(gè)的起因,是因?yàn)樽鯠EMO時(shí)犯的一個(gè)錯(cuò)誤。其實(shí)很多測(cè)試看起來(lái)確實(shí)很簡(jiǎn)單,很多高大上的儀器,真正的操作其實(shí)也并沒(méi)有什么繁瑣的。甚至從培訓(xùn)的時(shí)候就能看的出來(lái)。大部分同學(xué)聽(tīng)完怎么操作就懶得再聽(tīng)下去了,于是20人結(jié)果經(jīng)常堅(jiān)持下來(lái)的人只有2人。我想大部分使用的人實(shí)際上連布拉格方程是什么都沒(méi)有理解。不然也不會(huì)有那么多人始終分不清單晶衍射儀和粉末衍射儀的區(qū)別。單晶X射線(xiàn)衍射SC-XRD是為了利用X射線(xiàn)衍射測(cè)定晶體的三維結(jié)構(gòu)(實(shí)空間)而設(shè)計(jì)。通過(guò)測(cè)試單顆晶體,獲取三維空間的倒易點(diǎn)陣信...
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