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該儀器既可以對直徑大于300毫米的物體的內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行掃描和三維無損重建,也可以對小樣品進(jìn)行亞微米級(jí)的分辨。
另外,該系統(tǒng)配備了一個(gè)<0.5微米大小的 "開放型 "透射X射線源和一個(gè)金剛石窗口。它可容納四個(gè)X射線探測器,具有極大的靈活性。自動(dòng)可變的采集幾何和相位對比度增強(qiáng)可以在相對較短的掃描時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)優(yōu)秀質(zhì)量。
三維X射線顯微鏡(XRD)SKYSCAN 2214 CMOS將為用戶免費(fèi)提供全套的3D Suits軟件套裝。這個(gè)的軟件套裝涵蓋了GPU加速重建、二維/三維形態(tài)學(xué)分析以及表面和體積渲染可視化等用戶所需的全部功能。并且該軟件套裝可以進(jìn)行免費(fèi)升級(jí)。
三維X射線顯微鏡(XRM)SKYSCAN 2214采用最新一代的開放型X光源。該光源可達(dá)到優(yōu)于500 nm的實(shí)際空間分辨率,高達(dá)160 keV的X光能量,以及高達(dá)16 W的功率。因?yàn)閾碛袠O其簡單的預(yù)先配準(zhǔn)的燈絲更換程序,該光源幾乎不需要維護(hù)。
SKYSCAN 2214擁有帶金剛石窗口的開放型(泵式)納米焦點(diǎn)X光源。它能產(chǎn)生峰能量從20 kV到160 keV不等的X光束,并提供有兩種類型的陰極。鎢(W)陰極適用于最高達(dá)到160 kV的完整加速電壓范圍,光斑尺寸最小達(dá)到800 nm。六硼化鑭(LaB6)陰極適用于從20 kV到100 kV的加速電壓,X光束的光斑尺寸可以小于500 nm,從而確保在成像和三維重建中達(dá)到最高分辨率。JIMA分辨率測試卡顯示,它能輕松解析出500 nm的結(jié)構(gòu)。為了確保焦斑尺寸和發(fā)射源的位置能夠長期保持穩(wěn)定,X光源還能配備水冷系統(tǒng),該系統(tǒng)含有一個(gè)循環(huán)裝置,能精準(zhǔn)地控制冷卻液體的溫度以維持溫度的穩(wěn)定。
● 探測器
三維X射線顯微鏡(XRM)SKYSCAN 2214最多可以配備4個(gè)X射線探測器,以獲得最大的靈活性:其中包括三臺(tái)具有不同分辨率和視場平衡的科研及sCMOS探測器,以及一臺(tái)平板探測器以覆蓋超大視場。用戶只需點(diǎn)擊一下鼠標(biāo),就可以進(jìn)行探測器間的任意切換。
使用小像素的大尺寸CMOS探測器可以將高分辨率的三維成像擴(kuò)展到大型物體。內(nèi)置探測器的靈活性使其能夠根據(jù)物體的大小和密度來調(diào)整視場和空間分辨率。從感興趣的體積進(jìn)行*的重建,從而在不影響圖像質(zhì)量的情況下對大型物體的選定部分進(jìn)行局部高分辨率掃描。
此外,通過使用偏移的探測器位置和垂直方向的物體移動(dòng),可以分別增加水平和垂直的視場。之后,3D.SUITE軟件自動(dòng)將不同的圖像拼接在一起,并對偏移和可能的強(qiáng)度差異進(jìn)行準(zhǔn)確的補(bǔ)償。
隨著研究課題和分析需求的發(fā)展,探測器可以在系統(tǒng)使用期內(nèi)的任何時(shí)間點(diǎn)進(jìn)行現(xiàn)場升級(jí)。
三維X射線顯微鏡(XRM)SKYSCAN 2214 CMOS Edition擁有高度精準(zhǔn)的樣品臺(tái),支持直徑達(dá)到300 mm和重量達(dá)到20 kg的物體??諝鈶腋∈叫D(zhuǎn)馬達(dá)能以非常高的準(zhǔn)確度精準(zhǔn)地旋轉(zhuǎn)物體位置,集成的精密定位平臺(tái)能保證樣品對準(zhǔn)。
三維X射線顯微鏡(XRM)SKYSCAN 2214 CMOS Edition擁有一個(gè)很大的且使用方便的樣品室,方便掃描大型物體和安裝可選的試驗(yàn)臺(tái)。它有足夠的空間可供容納原位試驗(yàn)臺(tái)等外圍設(shè)備。
Bruker的材料試驗(yàn)臺(tái)可以進(jìn)行最大4400 N的壓縮試驗(yàn)和最大440 N的拉伸試驗(yàn)。所有試驗(yàn)臺(tái)都能通過系統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)臺(tái)自動(dòng)聯(lián)系到一起,而無需任何外接線纜。通過使用所提供的軟件,可以設(shè)置預(yù)定掃描試驗(yàn)。
布魯克的加熱臺(tái)和冷卻臺(tái)可以達(dá)到最高+80oC或低于環(huán)境溫度低30oC的溫度。和其它的試驗(yàn)臺(tái)一樣,加熱和冷卻臺(tái)也不需要任何額外的連接,系統(tǒng)可以自動(dòng)地識(shí)別不同的試驗(yàn)臺(tái)。通過使用加熱臺(tái)和冷卻臺(tái),可在非環(huán)境條件下檢測樣品,從而評估溫度對樣品微觀結(jié)構(gòu)的影響。
三維X射線顯微鏡(XRM)SKYSCAN 2214 CMOS Edition與DEBEN試驗(yàn)臺(tái)兼容。借助自帶的適配器,DEBEN試驗(yàn)臺(tái)可以很容易地被安裝到SKYSCAN 2214的旋轉(zhuǎn)臺(tái)上。
高低溫原位試驗(yàn)臺(tái) | 力學(xué)拉伸/壓縮原位試驗(yàn)臺(tái) | 兼容Deben樣品臺(tái) |
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